Verlagslink DOI: 10.1109/EDOCW.2018.00032
Titel: An Extensible Enterprise Architecture Pattern for Turnaround Management
Sprache: Englisch
Autorenschaft: Ellermann, Katharina 
Steeger, Jonas 
Steffens, Ulrike 
Herausgeber: Institute of Electrical and Electronics Engineers 
Schlagwörter: enterprise architecture management; enterprise architecture management pattern catalog; key performance indicator; patterns; turnaround management
Erscheinungsdatum: 15-Nov-2018
Verlag: IEEE
Teil der Schriftenreihe: 2018 IEEE 22nd International Enterprise Distributed Object Computing Conference workshops : EDOCW 2018 : 16-19 October 2018, Stockholm, Sweden : proceedings 
Anfangsseite: 170
Endseite: 175
Konferenz: IEEE International Enterprise Distributed Object Computing Conference 2018 
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12738/12346
ISBN: 978-1-5386-4141-5
978-1-5386-4142-2
Begutachtungsstatus: Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review)
Einrichtung: Department Informatik 
Fakultät Technik und Informatik 
Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
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