Verlagslink DOI: 10.48550/arXiv.2301.06804
Titel: A review of techniques for ageing detection and monitoring on embedded systems
Sprache: Englisch
Autorenschaft: Lanzieri Rodriguez, Leandro 
Martino, Gianluca 
Fey, Goerschwin 
Schlarb, Holger 
Schmidt, Thomas C.  
Wählisch, Matthias 
Erscheinungsdatum: 17-Jan-2023
Verlag: Arxiv.org
Zeitschrift oder Schriftenreihe: De.arxiv.org 
Zusammenfassung: 
Embedded digital devices, such as Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs) and Systems on Chip (SoCs), are increasingly used in dependable or safety-critical systems. These commodity devices are subject to notable hardware ageing, which makes failures likely when used for an extended time. It is of vital importance to understand ageing processes and to detect hardware degradations early. In this survey, we describe the fundamental ageing mechanisms and review the main techniques for detecting ageing in FPGAs, microcontrollers, SoCs, and power supplies. The main goal of this work is to facilitate future research efforts in this field by presenting all main approaches in an organized way.
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12738/14884
Begutachtungsstatus: Nur bei Preprints: Diese Version ist noch nicht begutachtet
Einrichtung: Department Informatik 
Fakultät Technik und Informatik 
Dokumenttyp: Vorabdruck (Preprint)
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