Verlagslink DOI: 10.1109/AUTOTESTCON47465.2024.10697501
Titel: Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?
Sprache: Englisch
Autorenschaft: Schulz, Peter  
Sleibi, Noura 
Wolff, Carsten 
Hensen, Christian 
Herausgeber: Institute of Electrical and Electronics Engineers 
Schlagwörter: Cyber Physical Test System (CPTS); Embedded Systems; Open Access; Automatic Test Equipment (ATE); Test Program Set (TPS); Field Programmable Gate Array (FPGA)
Erscheinungsdatum: 2-Okt-2024
Verlag: IEEE
Teil der Schriftenreihe: 2024 IEEE Autotestcon : conference proceedings 
Projekt: Open Access Community als Innovationstreiber für das Cyber-Physical Test System; Teilprojekt B 
Konferenz: Autotestcon 2024 
URI: https://hdl.handle.net/20.500.12738/16726
ISBN: 979-8-3503-4943-6
979-8-3503-4944-3
Begutachtungsstatus: Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review)
Einrichtung: Fakultät Technik und Informatik 
Department Informations- und Elektrotechnik 
Forschungs- und Transferzentrum Future Air Mobility 
Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
Hinweise zur Quelle: Project "DATIPilot - Sprint - OpenCPTS: Open Access Community als Innovationstreiber für das Cyber-Physical Test System; Teilprojekt B", funded by the German Federal Ministry of Education and Research, project number 03DPS1180B.
Sponsor / Fördernde Einrichtung: Bundesministerium für Bildung und Forschung 
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