| Verlagslink DOI: | 10.1109/AUTOTESTCON47465.2024.10697501 | Titel: | Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry? | Sprache: | Englisch | Autorenschaft: | Schulz, Peter  Sleibi, Noura Wolff, Carsten Hensen, Christian |
Herausgeber: | Institute of Electrical and Electronics Engineers | Schlagwörter: | Cyber Physical Test System (CPTS); Embedded Systems; Open Access; Automatic Test Equipment (ATE); Test Program Set (TPS); Field Programmable Gate Array (FPGA) | Erscheinungsdatum: | 2-Okt-2024 | Verlag: | IEEE | Teil der Schriftenreihe: | 2024 IEEE Autotestcon : conference proceedings | Konferenz: | Autotestcon 2024 | URI: | https://hdl.handle.net/20.500.12738/16726 | ISBN: | 979-8-3503-4943-6 979-8-3503-4944-3 |
Begutachtungsstatus: | Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review) | Einrichtung: | Fakultät Technik und Informatik Department Informations- und Elektrotechnik Forschungs- und Transferzentrum Future Air Mobility |
Dokumenttyp: | Konferenzveröffentlichung | Hinweise zur Quelle: | Project "DATIPilot - Sprint - OpenCPTS: Open Access Community als Innovationstreiber für das Cyber-Physical Test System; Teilprojekt B", funded by the German Federal Ministry of Education and Research, project number 03DPS1180B. | Sponsor / Fördernde Einrichtung: | Bundesministerium für Bildung und Forschung |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publications without full text |
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