| Verlagslink DOI: | 10.1109/AUTOTESTCON47465.2024.10697506 | Titel: | FPGA-based digital twins to evaluate test coverage of behavioral failure modes | Sprache: | Englisch | Autorenschaft: | Schulz, Peter  Ungar, Louis Y. Bahrampour, Braum S. |
Herausgeber: | Institute of Electrical and Electronics Engineers | Schlagwörter: | Automatic Test Equipment (ATE); Digital Twin; Field Programmable Gate Array (FPGA); Failure Modes Effect Analysis (FMEA); Test Coverage | Erscheinungsdatum: | 2-Okt-2024 | Verlag: | IEEE | Teil der Schriftenreihe: | 2024 IEEE Autotestcon : conference proceedings | Konferenz: | Autotestcon 2024 | URI: | https://hdl.handle.net/20.500.12738/16727 | ISBN: | 979-8-3503-4943-6 979-8-3503-4944-3 |
Begutachtungsstatus: | Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review) | Einrichtung: | Fakultät Technik und Informatik Department Informations- und Elektrotechnik Forschungs- und Transferzentrum Future Air Mobility |
Dokumenttyp: | Konferenzveröffentlichung |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publications without full text |
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