Entwicklung eines Freifeld-Messaufbaus zur Bestimmung der S-Parameter von ebenen Materialien

Abstract

Gegenstand dieser Arbeit ist die Entwicklung eines Freifeld-Messaufbaus zur Bestimmung von Material-eigenschaften ebener Materialien. Zur Kalibrierung wurde die Gated-Reflect-Line-Methode von Keysight Technologies hergeleitet und die Herleitung mittels Simulationen erfolgreich validiert. Im Anschluss wurde ein Freifeld-Messaufbau mit zwei Microstrip-Antennen realisiert und Messungen durchgeführt. Die Messungen zeigten keine zufriedenstellenden Ergebnisse.

The subject of this work is the development of a free-space measurement setup for determining the material properties of flat materials. The gated reflect line method from Keysight Technologies was derived for calibration and the derivation was successfully validated using simulations. Subsequently, a free-field measurement setup with two microstrip antennas was realized and measurements were carried out. The measurements did not show satisfactory results.