| Verlagslink DOI: | 10.1109/RADECS61970.2024.11298607 | Titel: | Bit error rate estimation of modern 3D-NAND flash partitions in space mass memories | Sprache: | Englisch | Autorenschaft: | Dirkes, Timo Spindeldreier, Christian Grürmann, Kai Rust, Jochen  Wyrwoll, Vanessa Poppe, Björn |
Schlagwörter: | NAND Flash; Radiation Effects Mitigation; Scrubbing; Reed Solomon; EDAC; Markov Chain; Bit Error Rate | Erscheinungsdatum: | 23-Dez-2025 | Verlag: | IEEE | Teil der Schriftenreihe: | 2024 24th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) | Konferenz: | European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems 2024 | Zusammenfassung: | A system level bit error rate estimation of a 3D-NAND Flash Partition for different radiation environments and operating modes (SLC/TLC) is performed. Influence of SEFI and SEU effects on bit error rate is characterized. |
URI: | https://hdl.handle.net/20.500.12738/19062 | ISBN: | 979-8-3315-8082-7 979-8-3315-8083-4 |
Begutachtungsstatus: | Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review) | Einrichtung: | Fakultät Informatik und Digitale Gesellschaft | Dokumenttyp: | Konferenzveröffentlichung |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publications without full text |
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