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Title: | Subpixelgenaue Kantendetektion für ein Bildmesssystem | Language: | German | Authors: | Tamou, Steve Herve Feutat | Keywords: | Konturensammlung | Issue Date: | 5-Apr-2016 | Abstract: | Ein Verfahren, welches Objektkonturen von 2-dimensionalen Objekten subpixelgenau identifizieren kann, wird in dieser Arbeit konstruiert. Es werden ein Gradient basiertes und ein 2. Ableitung Verfahren verwendet. Hierfür wird mithilfe einer Datenbank ein Vergleich zwischen realen und ermittelten Konturpositionen gezogen und die Abweichung zwischen diesen berechnet. Durch geringe Abweichung kann das verwendete Verfahren getestet werden. Formabweichungen sind im Verfahren berücksichtigt. |
URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12738/7285 | Institute: | Department Informatik | Type: | Thesis | Thesis type: | Bachelor Thesis | Advisor: | Meisel, Andreas | Referee: | Baran, Reinhard |
| Appears in Collections: | Theses |
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