| Verlagslink: | https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85078537535 | Verlagslink DOI: | 10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961895 | Titel: | Cyber Physical Test System : A novel approach in testing for the Embedded Systems Industry | Sprache: | Englisch | Autorenschaft: | Schulz, Peter  Wolff, Carsten |
Herausgeber: | Institute of Electrical and Electronics Engineers | Schlagwörter: | ATE; cloud computing; CPS; FPGA; functional testing; IoT; SoPC | Erscheinungsdatum: | 2019 | Verlag: | IEEE | Teil der Schriftenreihe: | 2019 IEEE AUTOTESTCON proceedings | Projekt: | Low-cost Cyber-Physical Test System (CPTS) for Embedded Systems Production | Konferenz: | IEEE AUTOTESTCON 2019 | URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12738/11229 | ISBN: | 978-1-7281-2832-0 978-1-72812-833-7 |
Begutachtungsstatus: | Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review) | Einrichtung: | Fachhochschule Dortmund | Dokumenttyp: | Konferenzveröffentlichung | Sponsor / Fördernde Einrichtung: | Bundesministerium für Wirtschaft und Energie |
| Enthalten in den Sammlungen: | Publications without full text |
Zur Langanzeige
Volltext ergänzen
Feedback zu diesem Datensatz
Export
Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.