Cyber Physical Test System : A novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

Schulz, Peter; Wolff, Carsten

doi:10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961895

Verlagslink:	https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85078537535
Verlagslink DOI:	10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961895
Titel:	Cyber Physical Test System : A novel approach in testing for the Embedded Systems Industry
Sprache:
Autorenschaft:	Schulz, Peter Wolff, Carsten
Herausgeber:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
Schlagwörter:	ATE; cloud computing; CPS; FPGA; functional testing; IoT; SoPC
Erscheinungsdatum:	2019
Verlag:	IEEE
Teil der Schriftenreihe:	2019 IEEE AUTOTESTCON proceedings
Projekt:	Cyber Physical Test System
Konferenz:	IEEE AUTOTESTCON 2019
URI:	http://hdl.handle.net/20.500.12738/11229
ISBN:	978-1-7281-2832-0 978-1-72812-833-7
Einrichtung:	Fachhochschule Dortmund
Dokumenttyp:	Konferenzveröffentlichung
Sponsor / Fördernde Einrichtung:	Bundesministerium für Wirtschaft und Energie
Enthalten in den Sammlungen:	Publications without full text