Verlagslink DOI: | 10.1063/1.3332591 | Titel: | Hard x-ray nanobeam characterization by coherent diffraction microscopy | Sprache: | Englisch | Autorenschaft: | Schropp, Andreas Boye, Pit Feldkamp, Jan M. Hoppe, Robert Patommel, Jens Samberg, Dirk Stephan, Sandra Giewekemeyer, Klaus Wilke, Robin Niklas ![]() Salditt, Tim Gulden, Johannes Mancuso, Adrian P. Vartanyants, Ivan A. Weckert, Edgar Schöder, Sebastian Burghammer, Manfred Schroer, Christian G. |
Schlagwörter: | Holographic interferometry; Coherent diffraction; X ray microscopes | Erscheinungsdatum: | 1-Mär-2010 | Verlag: | AIP Publishing | Zeitschrift oder Schriftenreihe: | Applied physics letters | Zeitschriftenband: | 96 | Zeitschriftenausgabe: | 9 | URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12738/15683 | ISSN: | 1077-3118 | Begutachtungsstatus: | Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review) | Einrichtung: | Georg-August-Universität Göttingen | Dokumenttyp: | Zeitschriftenbeitrag | Hinweise zur Quelle: | article number: 091102 (2010) |
Enthalten in den Sammlungen: | Publications without full text |
Zur Langanzeige
Volltext ergänzen
Feedback zu diesem Datensatz
Export
Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.