DC ElementWertSprache
dc.contributor.authorSchropp, Andreas-
dc.contributor.authorBoye, Pit-
dc.contributor.authorFeldkamp, Jan M.-
dc.contributor.authorHoppe, Robert-
dc.contributor.authorPatommel, Jens-
dc.contributor.authorSamberg, Dirk-
dc.contributor.authorStephan, Sandra-
dc.contributor.authorGiewekemeyer, Klaus-
dc.contributor.authorWilke, Robin Niklas-
dc.contributor.authorSalditt, Tim-
dc.contributor.authorGulden, Johannes-
dc.contributor.authorMancuso, Adrian P.-
dc.contributor.authorVartanyants, Ivan A.-
dc.contributor.authorWeckert, Edgar-
dc.contributor.authorSchöder, Sebastian-
dc.contributor.authorBurghammer, Manfred-
dc.contributor.authorSchroer, Christian G.-
dc.date.accessioned2024-05-03T06:31:35Z-
dc.date.available2024-05-03T06:31:35Z-
dc.date.issued2010-03-01-
dc.identifier.issn1077-3118en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12738/15683-
dc.language.isoenen_US
dc.publisherAIP Publishingen_US
dc.relation.ispartofApplied physics lettersen_US
dc.subjectHolographic interferometryen_US
dc.subjectCoherent diffractionen_US
dc.subjectX ray microscopesen_US
dc.subject.ddc530: Physiken_US
dc.titleHard x-ray nanobeam characterization by coherent diffraction microscopyen
dc.typeArticleen_US
dc.description.versionPeerRevieweden_US
tuhh.container.issue9en_US
tuhh.container.volume96en_US
tuhh.oai.showtrueen_US
tuhh.publication.instituteGeorg-August-Universität Göttingenen_US
tuhh.publisher.doi10.1063/1.3332591-
tuhh.type.opus(wissenschaftlicher) Artikel-
dc.type.casraiJournal Article-
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dc.type.statusinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen_US
dcterms.DCMITypeText-
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item.fulltextNo Fulltext-
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item.creatorGNDSchroer, Christian G.-
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crisitem.author.deptDepartment Maschinenbau und Produktion (ehemalig, aufgelöst 10.2025)-
crisitem.author.orcid0000-0002-9263-1904-
crisitem.author.parentorgFakultät Technik und Informatik (ehemalig, aufgelöst 10.2025)-
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