Hard x-ray nanobeam characterization by coherent diffraction microscopy

Schropp, Andreas; Boye, Pit; Feldkamp, Jan M.; Hoppe, Robert; Patommel, Jens; Samberg, Dirk; Stephan, Sandra; Giewekemeyer, Klaus; Wilke, Robin Niklas; Salditt, Tim; Gulden, Johannes; Mancuso, Adrian P.; Vartanyants, Ivan A.; Weckert, Edgar; Schöder, Sebastian; Burghammer, Manfred; Schroer, Christian G.

doi:10.1063/1.3332591

Verlagslink DOI:	10.1063/1.3332591
Titel:	Hard x-ray nanobeam characterization by coherent diffraction microscopy
Sprache:	Englisch
Autorenschaft:	Schropp, Andreas Boye, Pit Feldkamp, Jan M. Hoppe, Robert Patommel, Jens Samberg, Dirk Stephan, Sandra Giewekemeyer, Klaus Wilke, Robin Niklas Salditt, Tim Gulden, Johannes Mancuso, Adrian P. Vartanyants, Ivan A. Weckert, Edgar Schöder, Sebastian Burghammer, Manfred Schroer, Christian G.
Schlagwörter:	Holographic interferometry; Coherent diffraction; X ray microscopes
Erscheinungsdatum:	1-Mär-2010
Verlag:	AIP Publishing
Zeitschrift oder Schriftenreihe:	Applied physics letters
Zeitschriftenband:	96
Zeitschriftenausgabe:	9
URI:	http://hdl.handle.net/20.500.12738/15683
ISSN:	1077-3118
Begutachtungsstatus:	Diese Version hat ein Peer-Review-Verfahren durchlaufen (Peer Review)
Einrichtung:	Georg-August-Universität Göttingen
Dokumenttyp:	Zeitschriftenbeitrag
Hinweise zur Quelle:	article number: 091102 (2010)
Enthalten in den Sammlungen:	Publications without full text