DC ElementWertSprache
dc.contributor.authorSchulz, Peter-
dc.contributor.authorSleibi, Noura-
dc.contributor.authorWolff, Carsten-
dc.contributor.authorHensen, Christian-
dc.date.accessioned2024-12-12T15:02:55Z-
dc.date.available2024-12-12T15:02:55Z-
dc.date.issued2024-10-02-
dc.identifier.isbn979-8-3503-4943-6en_US
dc.identifier.isbn979-8-3503-4944-3en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12738/16726-
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschungen_US
dc.language.isoenen_US
dc.publisherIEEEen_US
dc.subjectCyber Physical Test System (CPTS)en_US
dc.subjectEmbedded Systemsen_US
dc.subjectOpen Accessen_US
dc.subjectAutomatic Test Equipment (ATE)en_US
dc.subjectTest Program Set (TPS)en_US
dc.subjectField Programmable Gate Array (FPGA)en_US
dc.subject.ddc620: Ingenieurwissenschaftenen_US
dc.titleCould an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?en
dc.typeinProceedingsen_US
dc.relation.conferenceAutotestcon 2024en_US
dc.description.versionPeerRevieweden_US
local.contributorCorporate.editorInstitute of Electrical and Electronics Engineers-
tuhh.oai.showtrueen_US
tuhh.publication.instituteFakultät Technik und Informatiken_US
tuhh.publication.instituteDepartment Informations- und Elektrotechniken_US
tuhh.publication.instituteForschungs- und Transferzentrum Future Air Mobilityen_US
tuhh.publisher.doi10.1109/AUTOTESTCON47465.2024.10697501-
tuhh.relation.ispartofseries2024 IEEE Autotestcon : conference proceedingsen_US
tuhh.type.opusInProceedings (Aufsatz / Paper einer Konferenz etc.)-
dc.relation.projectOpen Access Community als Innovationstreiber für das Cyber-Physical Test System; Teilprojekt Ben_US
dc.type.casraiConference Paper-
dc.type.dinicontributionToPeriodical-
dc.type.drivercontributionToPeriodical-
dc.type.statusinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen_US
dcterms.DCMITypeText-
local.comment.externalProject "DATIPilot - Sprint - OpenCPTS: Open Access Community als Innovationstreiber für das Cyber-Physical Test System; Teilprojekt B", funded by the German Federal Ministry of Education and Research, project number 03DPS1180B.en_US
item.tuhhseriesid2024 IEEE Autotestcon : conference proceedings-
item.languageiso639-1en-
item.openairetypeinProceedings-
item.fulltextNo Fulltext-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_5794-
item.creatorOrcidSchulz, Peter-
item.creatorOrcidSleibi, Noura-
item.creatorOrcidWolff, Carsten-
item.creatorOrcidHensen, Christian-
item.seriesref2024 IEEE Autotestcon : conference proceedings-
item.cerifentitytypePublications-
item.creatorGNDSchulz, Peter-
item.creatorGNDSleibi, Noura-
item.creatorGNDWolff, Carsten-
item.creatorGNDHensen, Christian-
item.grantfulltextnone-
crisitem.project.funderBundesministerium für Forschung, Technologie und Raumfahrt-
crisitem.author.deptDepartment Informations- und Elektrotechnik (ehemalig, aufgelöst 10.2025)-
crisitem.author.orcid0009-0009-4830-1498-
crisitem.author.parentorgFakultät Technik und Informatik (ehemalig, aufgelöst 10.2025)-
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